合研科技代理的熱阻量測設備-Simcenter T3ster 是一款先進且無損耗的瞬態熱量測儀，可以用於量測半導體和多晶片模組設備的熱阻特性，可支援測試如，IC晶片、BJT、MOSFET、IGBT和LED晶片等設備。Simcenter T3ster 能有效的量測真實的瞬態熱結果，於1微秒反應的測試下精確值高達 ±0.01° C。後處理量測結果可輸出為結構函式圖表，該圖表顯示了沿著熱路徑的熱容、熱阻以及封裝材料特性，此結果可應用於模型校正，進而增加了散熱設計的準確性。