Simcenter T3ster | 熱阻量測儀

晶片溫度量測 | 晶片熱阻量測

Simcenter T3ster 是一款先進且無損耗的瞬態熱量測儀,可以用於量測半導體和多晶片模組設備的熱特性,可支援測試如,IC晶片、BJTMOSFETIGBTLED晶片等設備。Simcenter T3ster 能有效的量測真實的瞬態熱結果,於1微秒反應的測試下精確值高達 ±0.01° C。後處理量測結果可輸出為結構函式圖表,該圖表顯示了沿著熱路徑的熱容、熱阻以及封裝材料特性,此結果可應用於模型校正,進而增加了散熱設計的準確性。

 

Simcenter T3ster

Simcenter T3ster 產品特色

  1. 滿足JEDEC51-14標準
  2. 實現JEDEC51-1竟特測試
  3. 1us電源切換、1us量測解析度、64K儲存空間
  4. 結構函式分析內部結構
  5. 操作流程簡便
晶片熱阻量測
晶片熱阻量測-2
LED晶片熱阻量測-3

Simcenter T3ster 應用範圍

  1. 量測節點或表面溫度
  2. 測定瞬態熱阻、接觸熱阻
  3. 瞭解內部結構、材料屬性
  4. 分析製造缺陷、可靠度測試
  5. 評估系統散熱性能
  6.  

相關連結

Close Menu